集束イオンビーム加工観察装置JIB-4000PLUSを販売開始　～自動TEM試料作製機能、最大照射電流 90nAを備えたハイスループットFIB～
日本電子株式会社(代表取締役社長：栗原 権右衛門)は、新型の集束イオンビーム加工観察装置(FIB)JIB-4000PLUSを開発し、2019年1月より販売を開始しました。<br />
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画像1: https://www.atpress.ne.jp/releases/174399/LL_img_174399_1.jpg<br />
JIB-4000PLUS<br />
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JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置<br />
URL： https://www.jeol.co.jp/products/detail/JIB-4000PLUS.html<br />
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■開発の背景<br />
材料のナノスケール組織制御、パワー半導体・CMOSセ…
Source: プレスリリース新着